BAZA USŁUG BADAWCZYCH
Uniwersytetu Jagiellońskiego
tematyka badań:
Planowany aparat łączy możliwości obserwacji mikroskopowych powierzchni i przekrojów oraz zaawansowanej analityki i umożliwia obrazowanie próbek z lepszą rozdzielczością (badania topograficzne SEM) oraz badanie składu pierwiastkowego zarówno powierzchni (badania EDS), jak i przekroju próbek (działo jonowe, detektor TOF-SIMS).
Zastosowanie detektora katodoluminescencji umożliwi szersze badania półprzewodników, szczególnie w zakresie badania procesów rekombinacji stanów wzbudzonych.
Planowany aparat łączy możliwości obserwacji mikroskopowych powierzchni i przekrojów oraz zaawansowanej analityki i umożliwia obrazowanie próbek z lepszą rozdzielczością (badania topograficzne SEM) oraz badanie składu pierwiastkowego zarówno powierzchni (badania EDS), jak i przekroju próbek (działo jonowe, detektor TOF-SIMS).
Zastosowanie detektora katodoluminescencji umożliwi szersze badania półprzewodników, szczególnie w zakresie badania procesów rekombinacji stanów wzbudzonych.
aparatura:
Najnowszy mikroskop SEM wyposażonyjest w:
- działo umożliwiające trawienie badanych próbek za pomocą wiązki jonów ksenonu (wyhamowanie wiązki głównej do 50 eV, rozdzielczość poniżej 1,0 nm przy 15 keV, emiter polowy)
- zespół detektorów (klasycznych oraz wewnątrzsoczewkowych) pozwalających na obrazowanie próbek z wykorzystaniem elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych
- detektor promieniowania rentgenowskiego umożliwiający badanie pierwiastkowego składu analizowanych materiałów
- detektor katodoluminescencji, umożliwiający badanie procesów rekombinacji zachodzących w materiałach półprzewodnikowych
- detektor TOF-SIMS umożliwiający analizę składu chemicznego fragmentów trawionych wiązką FIB.
Najnowszy mikroskop SEM wyposażonyjest w:
- działo umożliwiające trawienie badanych próbek za pomocą wiązki jonów ksenonu (wyhamowanie wiązki głównej do 50 eV, rozdzielczość poniżej 1,0 nm przy 15 keV, emiter polowy)
- zespół detektorów (klasycznych oraz wewnątrzsoczewkowych) pozwalających na obrazowanie próbek z wykorzystaniem elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych
- detektor promieniowania rentgenowskiego umożliwiający badanie pierwiastkowego składu analizowanych materiałów
- detektor katodoluminescencji, umożliwiający badanie procesów rekombinacji zachodzących w materiałach półprzewodnikowych
- detektor TOF-SIMS umożliwiający analizę składu chemicznego fragmentów trawionych wiązką FIB.
usługi:
Oferta badań komercyjnych obejmuje:
- Preparatyka próbek na potrzeby transmisyjnej mikroskopii elektronowej bez względu na producenta czy model posiadanego mikroskopu TEM (zastosowanie ksenonu jako źródła jonów znacząco zwiększa możliwości trawienia, które mogą objąć większe obszary i głębokości)
- Obrazowanie z rozdzielczością poniżej 1 nm, wyhamowanie wiązki głównej do 50 eV, rozdzielczość poniżej 1,0 nm przy 15 keV, emiter polowy, (badania topograficzne SEM) składu pierwiastkowego zarówno powierzchni (badania EDS, analizy punktowe, profile oraz mapy składu chemicznego) jak i przekroju próbek (TOF-SIMS). Detektor TOF-SIMS zdecydowanie zwiększa możliwości analityczne urządzenia zwłaszcza w oznaczaniu pierwiastków lekkich, co ma znaczenie w badaniu nowoczesnych materiałów dla energetyki
- Badania półprzewodników (informacje o przewodności, czasie życia i ruchliwości ładunku) do zastosowań telekomunikacyjnych, teleinformatycznych, energetycznych i środowiskowych (detektor katodoluminescencji).
Oferta badań komercyjnych obejmuje:
- Preparatyka próbek na potrzeby transmisyjnej mikroskopii elektronowej bez względu na producenta czy model posiadanego mikroskopu TEM (zastosowanie ksenonu jako źródła jonów znacząco zwiększa możliwości trawienia, które mogą objąć większe obszary i głębokości)
- Obrazowanie z rozdzielczością poniżej 1 nm, wyhamowanie wiązki głównej do 50 eV, rozdzielczość poniżej 1,0 nm przy 15 keV, emiter polowy, (badania topograficzne SEM) składu pierwiastkowego zarówno powierzchni (badania EDS, analizy punktowe, profile oraz mapy składu chemicznego) jak i przekroju próbek (TOF-SIMS). Detektor TOF-SIMS zdecydowanie zwiększa możliwości analityczne urządzenia zwłaszcza w oznaczaniu pierwiastków lekkich, co ma znaczenie w badaniu nowoczesnych materiałów dla energetyki
- Badania półprzewodników (informacje o przewodności, czasie życia i ruchliwości ładunku) do zastosowań telekomunikacyjnych, teleinformatycznych, energetycznych i środowiskowych (detektor katodoluminescencji).
forma współpracy: usługi badawcze, prace zlecone cennikowe, konsorcjum, projekt, inne
rodzaj usług badawczych: pomiary, analiza, ekspertyza, synteza, interpretacja
informacja / kontakt broker Uniwersytetu Jagiellońskiego
imię i nazwisko: dr Paula Janus
telefon: 506 006 590
email: pa.janus@uj.edu.pl