BAZA USŁUG BADAWCZYCH
Uniwersytetu Jagiellońskiego
Mikroskop LT STM/AFM z układem optycznym
numer oferty: 103
tematyka badań:
Aparatura umożliwia prowadzenie badań powierzchni krystalicznych z precyzją atomową. Możliwe jest również badanie lokalnej struktury elektronowej. Wynikami pomiarów są obrazy skaningowej mikroskopii tunelowej (STM), bądź mikroskopii sił atomowych (AFM) pozwalające w wielu przypadkach na określenie lokalnej struktury atomowej. Na podstawie badań spektroskopii tunelowej (STS) możliwe jest wyznaczanie energii dyskretnych poziomów, bądź krawędzi pasm przewodnictwa/walencyjnego. Zilustrować można również przestrzenny rozkład „chmur elektronowych”.
Badane są materiały krystaliczne, półprzewodnikowe, bądź przewodzące, płaskie (w skali atomowej).
Aparatura umożliwia prowadzenie badań powierzchni krystalicznych z precyzją atomową. Możliwe jest również badanie lokalnej struktury elektronowej. Wynikami pomiarów są obrazy skaningowej mikroskopii tunelowej (STM), bądź mikroskopii sił atomowych (AFM) pozwalające w wielu przypadkach na określenie lokalnej struktury atomowej. Na podstawie badań spektroskopii tunelowej (STS) możliwe jest wyznaczanie energii dyskretnych poziomów, bądź krawędzi pasm przewodnictwa/walencyjnego. Zilustrować można również przestrzenny rozkład „chmur elektronowych”.
Badane są materiały krystaliczne, półprzewodnikowe, bądź przewodzące, płaskie (w skali atomowej).
aparatura:
Najnowsza generacja niskotemperaturowego mikroskopu UHV LT-STM/AFM z układem umożliwiającym jednoczesne prowadzenie pomiarów optycznych. Mikroskop zawiera dodatkowe elementy: soczewki umożliwiające prowadzenie eksperymentów optycznych, kriostat mikroskopu LT-STM/AFM, komora UHV mikroskopu z układem pompującym, zestaw elementów do podłączenia i monitorowania chłodzenia ciekłym helem, podnośnik dla kriostatu helowego, zestaw filtrów HF dla uzyskania wysokiej rozdzielczości energetycznej pomiarów.
Wśród najważniejszych parametrów specyfikacji technicznej wymienić można: możliwość prowadzenia pomiarów STM/AFM w temperaturze ciekłego helu (<5 K), czas pracy kriostatu w temperaturze ciekłego helu (<5 K) powyżej 65 h, obecność głowicy mikroskopu umożliwiającej pomiary w trybie STM i nc-AFM (q-plus), rozdzielczość energetyczna pomiarów STM/STS na poziomie 1 meV, wykorzystanie skanera mikroskopu STM/AFM z zakresem ruchu (w temperaturze 5K): X, Y, Z: 1,8 μm x 1,8 μm x 0,2 μm, obecność uchwytu na próbkę w mikroskopie wyposażonego w grzałkę umożliwiającą prowadzenie pomiarów w temperaturze przynajmniej +50 K w odniesieniu do temperatury kriostatu, wyposażenie mikroskopu w soczewki o dużej aperturze numerycznej (NA powyżej 0,4) zapewniające możliwości prowadzenia pomiarów optycznych równoczesnych z pomiarami techniką prądu tunelowego.
Najnowsza generacja niskotemperaturowego mikroskopu UHV LT-STM/AFM z układem umożliwiającym jednoczesne prowadzenie pomiarów optycznych. Mikroskop zawiera dodatkowe elementy: soczewki umożliwiające prowadzenie eksperymentów optycznych, kriostat mikroskopu LT-STM/AFM, komora UHV mikroskopu z układem pompującym, zestaw elementów do podłączenia i monitorowania chłodzenia ciekłym helem, podnośnik dla kriostatu helowego, zestaw filtrów HF dla uzyskania wysokiej rozdzielczości energetycznej pomiarów.
Wśród najważniejszych parametrów specyfikacji technicznej wymienić można: możliwość prowadzenia pomiarów STM/AFM w temperaturze ciekłego helu (<5 K), czas pracy kriostatu w temperaturze ciekłego helu (<5 K) powyżej 65 h, obecność głowicy mikroskopu umożliwiającej pomiary w trybie STM i nc-AFM (q-plus), rozdzielczość energetyczna pomiarów STM/STS na poziomie 1 meV, wykorzystanie skanera mikroskopu STM/AFM z zakresem ruchu (w temperaturze 5K): X, Y, Z: 1,8 μm x 1,8 μm x 0,2 μm, obecność uchwytu na próbkę w mikroskopie wyposażonego w grzałkę umożliwiającą prowadzenie pomiarów w temperaturze przynajmniej +50 K w odniesieniu do temperatury kriostatu, wyposażenie mikroskopu w soczewki o dużej aperturze numerycznej (NA powyżej 0,4) zapewniające możliwości prowadzenia pomiarów optycznych równoczesnych z pomiarami techniką prądu tunelowego.
forma współpracy: usługi badawcze, prace zlecone cennikowe, konsorcjum, projekt, inne
rodzaj usług badawczych: pomiary, analiza, ekspertyza
informacja / kontakt broker Uniwersytetu Jagiellońskiego
imię i nazwisko: Katarzyna Małek-Ziętek
telefon: +48 519 307 961